В сборнике отражено современное состояние тех разделов кристаллографии и кристаллофизики, в развитие которых существенный вклад внес А. В. Шубников. Рассмотрены вопросы теории симметрии и ее применений к конкретным задачам кристаллофизики, в частности в структурном анализе кристаллов. Обсуждаются проблемы роста, фазовых переходов и физических свойств кристаллов. Описываются современные методы выращивания кристаллов и тонких пленок. Авторы сборника - известные специалисты в области кристаллографии и физики твердого тела. Издание рассчитано на научных работников, преподавателей и аспирантов, занимающихся кристаллографией и кристаллофизикой.